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WKL-702 顆粒圖像分析儀
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分析儀器 >> 分析儀器 >> 粒度儀.粒度分析儀.微粒儀
產(chǎn)品介紹  
WKL-702顆粒圖像分析儀適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析。
測量范圍:1~3000微米
最大光學放大倍數(shù):1600倍
最大分辨率:0.1微米/像素
準確性誤差:< ±3%(國家標準物質(zhì))
重復性偏差:< ±3%(國家標準物質(zhì))
數(shù)據(jù)輸出:周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當徑分布、面積相當徑分布、Feret徑分布、長短徑比、中間(D50)、有效粒徑(D10)、限定粒徑(D60、D30、D97)、個數(shù)長度平均徑、個數(shù)面積平均徑、個數(shù)體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)。
配置參數(shù)(配置1國產(chǎn)顯微鏡)(配置2進口顯微鏡)
三目生物顯微鏡:平場目鏡:10×、16×
                消色差物鏡:4×、10×、40×、100× (油) 
                總放大倍數(shù):40×-1600×
攝像機:300萬像素數(shù)字CCD(標準C接口鏡頭)
電話咨詢熱線:
021-6573 0171多種規(guī)格參數(shù),請撥打咨詢熱線
留言咨詢服務:(適用于午休和夜間、習慣留言咨詢的客戶)
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內(nèi)容:

適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析。

 

工作原理

WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統(tǒng),由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行處理分析,具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點??梢杂^察顆粒形貌,也可得到粒度分布等分析結果。

 

技術參數(shù)

測量范圍:13000微米

最大光學放大倍數(shù):1600

最大分辨率:0.1微米/像素

準確性誤差:< ±3%(國家標準物質(zhì))

重復性偏差:< ±3%(國家標準物質(zhì))

數(shù)據(jù)輸出:周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當徑分布、面積相當徑分布、Feret徑分布、長短徑比、中間(D50)、有效粒徑(D10)、限定粒徑(D60D30、D97)、個數(shù)長度平均徑、個數(shù)面積平均徑、個數(shù)體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)。

配置參數(shù)(配置1國產(chǎn)顯微鏡)(配置2進口顯微鏡)

三目生物顯微鏡:平場目鏡:10×、16×

               消色差物鏡:4×、10×、40×、100× (油)

               總放大倍數(shù):40×-1600×

攝像機:300萬像素數(shù)字CCD(標準C接口鏡頭)

 

軟件功能及報告輸出格式

1、可以對圖像進行多項處理::影像增強、圖像疊加、局部提取、定向放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖

 

 

 WKL-702
 
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021-65730171
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